Simulatori ESD HBM\/MM ESD-883D<\/a> per testare HBM, MM e CDM contemporaneamente (modello LISUN: ESD-883D\/ESD-CDM)<\/p>\nConfigurazione del sistema:<\/strong>
\nSorgente di alta tensione CC:<\/strong>
\na. Intervallo di tensione in uscita: \u00b1(10V~5kV);
\nb. Errore massimo consentito della tensione di uscita: \u00b1(3%\u00d7valore letto+10V);<\/p>\nStrumento principale:<\/strong>
\na. Isolare la piastra di induzione ad alta tensione per prevenire dispersioni di alta tensione;
\nb. La \u201cpiastra di induzione ad alta tensione + piastra di isolamento\u201d pu\u00f2 essere regolata in tre direzioni, con un intervallo di regolazione di 0~10 cm e una precisione di regolazione di 0,1 mm (regolazione manuale);
\nc. Dimensioni della scheda sensore: 12 cm * 12 cm * 2 mm;
\nd. Dimensioni della scheda di isolamento: 12 cm * 12 cm * 0,4 mm, materiale: FR4<\/p>\nSonda di prova elettrostatica:<\/strong>
\na. Capacit\u00e0 massima di misurazione del picco dell'impulso di corrente di scarica elettrostatica \u226520A;
\nb. Dimensioni della sonda: \u03a61,5*10 mm, lunghezza telescopica: \u22483 mm;
\nc. La sonda di prova pu\u00f2 muoversi verticalmente (controllo programmato + controllo manuale), con velocit\u00e0 regolabile da 0,1 cm\/s a 5 cm\/s
\nd. La parte della sonda di prova \u00e8 dotata di un attenuatore e una porta\/linea di acquisizione dati \u00e8 predisposta per il collegamento diretto a un oscilloscopio.
\ne. Dimensioni del piano di massa: 63,5 mm*63,5 mm*6,35 mm<\/p>\n![\"Schema\"](\"https:\/\/www.lisungroup.com\/wp-content\/uploads\/2024\/06\/11DJQ@YP8THXNCK6E.png\" "\\"\\"")
<\/p>\n
Schema<\/span><\/p>\n<\/div>\n![\"Diagramma](\"https:\/\/www.lisungroup.com\/wp-content\/uploads\/2024\/06\/Principle-reference-diagram-ANSI-ESDA-JEDEC-JS-002-2014.jpg\" "\\"\\"")
<\/p>\n
Diagramma di riferimento principale\uff08ANSI\/ESDA\/JEDEC JS-002-2014\uff09<\/span><\/p>\n<\/div>\n![\"Schema\"](\"https:\/\/www.lisungroup.com\/wp-content\/uploads\/2024\/06\/6JEXK2@SPA0WKUI3Y.png\" "\\"\\"")
<\/p>\n
Schema<\/span><\/p>\n<\/div>\n![\"Schema](\"https:\/\/www.lisungroup.com\/wp-content\/uploads\/2024\/06\/EVBWUICAICAQNAQP6O.png\" "\\"\\"")
<\/p>\n
Schema del circuito equivalente<\/span><\/p>\n<\/div>\n![\"Immagine](\"https:\/\/www.lisungroup.com\/wp-content\/uploads\/2024\/06\/Test-probe-physical-reference-picture.jpg\" "\\"\\"")
<\/p>\n
Immagine di riferimento fisica della sonda di prova<\/span><\/p>\n<\/div>\n![\"Immagine](\"https:\/\/www.lisungroup.com\/wp-content\/uploads\/2024\/06\/Base-physical-picture.jpg\" "\\"\\"")
<\/p>\n
Immagine fisica di base<\/span><\/p>\n<\/div>\n![\"\"](\"https:\/\/www.lisungroup.com\/wp-content\/uploads\/2024\/06\/Schematic-diagram-of-three-dimensional-adjustment-of-the-base-reference.jpg\" "\\"\\"")
<\/p>\n
Schema di regolazione tridimensionale della base (riferimento)<\/span><\/p>\n<\/div>\nProcedura di esecuzione del test:<\/strong>
\n1. Posizionare il dispositivo in prova sulla scheda isolante, fissare il supporto e orientare il pin verso l'alto;
\n2. Regolare manualmente la manopola tridimensionale della base in modo che il pin del dispositivo in prova sia centrato;
\n3. Controllare manualmente la sonda di prova fino al massimo spostamento, verificare che sia a contatto con il perno e quindi riportarla nella posizione iniziale;
\n4. Impostare la velocit\u00e0 di movimento della sonda su un valore appropriato;
\n4. Avviare la sorgente ad alta tensione a XX volt per portare il dispositivo in prova in uno stato di carica indotta elettrostaticamente;
\n5. Far s\u00ec che la sonda si abbassi automaticamente e rapidamente e entri in contatto con il perno per completare il processo di scarica CDM. Allo stesso tempo, i dati della forma d'onda della scarica vengono trasmessi all'oscilloscopio tramite un cavo coassiale per la visualizzazione e la memorizzazione.<\/p>\n![\"Schema](\"https:\/\/www.lisungroup.com\/wp-content\/uploads\/2024\/06\/Schematic-diagram-of-the-test-operation-process.jpg\" "\\"\\"")
<\/p>\n
Schema del processo operativo di prova<\/span><\/p>\n<\/div>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"ESD-CDM ESD Guns for ICs Testing is specially designed for the characteristics and requirements of the electrostatic discharge immunity test of the Charged Device Model (CDM) discharge. It can test the electrostatic immunity of semiconductor devices such as LED chips, transistors and ICs. It is designed and manufactured in accordance with the requirements of the […]<\/p>\n","protected":false},"author":1,"featured_media":3233,"comment_status":"open","ping_status":"open","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"footnotes":""},"categories":[6],"tags":[571],"class_list":["post-2877","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-products","tag-esd-cdm"],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/www.ledtestsystem.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/2877","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/www.ledtestsystem.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/www.ledtestsystem.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.ledtestsystem.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/users\/1"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.ledtestsystem.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=2877"}],"version-history":[{"count":0,"href":"https:\/\/www.ledtestsystem.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/2877\/revisions"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.ledtestsystem.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/media\/3233"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/www.ledtestsystem.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=2877"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.ledtestsystem.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=2877"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.ledtestsystem.com\/it\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=2877"}],"curies":[{"name":"parola chiave","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}